㈱日立ハイテクにおいて、高分解能3D表面計測装置の活用術をテーマに、走査型プローブ顕微鏡(AFM)&走査型白色干渉顕微鏡(CSI)に関するセミナーが開催されます。
当センターの小林研究員が、本講座で下記講演を行います。
ご興味のある方はぜひご参加ください。
〇講演概要
- 日時:2024年11月6日(水)13:30~16:10
- 開催場所:Web開催
- 参加費:無料
- タイトル:「i3-operaにおけるナノ3D計測システム(白色干渉顕微鏡)VS1800の活用方法と材料評価事例の紹介」
- 公式HP:https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/events/afmcsi6.html