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新着情報

当センターの研究成果の論文がAIP Advancesに掲載されました。

当センターの藤本研究室長の論文がAIP Advancesに掲載されました。

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◎発表題目
Vacuum chamber considerations for improved organic light-emitting diode lifetime
 
◎発表の概要
我々は有機ELデバイスの作成時間が長くなるに従い寿命が低下する現象に着目し、真空チャンバー内の不純物が寿命に与える影響を調査した。実験では、チャンバーの接触角とデバイス寿命に相関がみられたことから、不純物は寿命に大きな影響を与えることが分かった。チャンバー内に滞在させたSi基板上の不純物をLC-MSで分析することにより、デバイス作成時に装置由来の汚染が生じることを明らかにした。さらに装置内の洗浄実験により寿命への影響が公知である水分ではなく、装置由来の有機不純物が寿命に影響することを示した。そして、寿命に影響をおよぼすそれらの不純物が、過去に使用したデバイス材料や装置構成部材と推測される成分に由来することをLC-MS結果の解析により明らかにした。また、チャンバーをオゾン洗浄することで接触角を下げることができ、デバイス寿命を向上させることができた。
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